Výsledky vyhľadávania
Názov Thin film analysis by x-ray scattering Autor Birkholz Mario Vyd.údaje Weinheim : WILEY-VCH Verlag , 2006. - 522 s. Počet ex. 1, z toho voľných 0, prezenčne 1 Druh dok. monografie 
kniha
Slovenská akadémia vied
Slovenská akadémia vied
| Názov | Thin film analysis by x-ray scattering |
|---|---|
| Autor | Birkholz Mario |
| Vyd.údaje | Weinheim : WILEY-VCH Verlag , 2006. - 522 s. |
| Počet ex. | 1, z toho voľných 0, prezenčne 1 |
| Druh dok. | monografie |
kniha