Výsledky vyhľadávania
Názov A low-overhead BIST architecture for digital data processing circuits Autor Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Trebatický Peter 1947- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Malík Peter 1980 - SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. Lecture Notes in Electrical Engineering : Emerging trends in computing, informatics, systems sciences, and engineering. Vol. 151 (2013), p. 647-659 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2013 DOI 10.1007/978-1-4614-3558-7_56 
článok
Názov Efficient diagnostics algorithms for regular computing structures Autor Mánik Miroslav SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. 2011 IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems : DDECS 2011. P. 87-92. - : IEEE, 2011 ; 2011 IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2011 Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2011 DOI 10.1109/DDECS.2011.5783054 článok
Názov A novel automatic test pattern generator for asynchronous sequential digital circuits Autor Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. Microelectronics Journal. Vol. 42, no. 3 (2011), p. 501-508 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2011 DOI 10.1016/j.mejo.2010.10.013 článok
Názov Memory testing and self-repair. Chapter 7 Časť.dok. Chapter 7 Autor Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 155-174. - New York : Information Science Reference, 2011 Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2011 článok
Názov Delay faults testing Autor Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 377-394. - New York : Information Science Reference, 2011 Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2011 článok
Názov Deductive fault simulation technique for asynchronous circuits Autor Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. Computing and informatics. Vol. 29, no. 6 (2010), p. 1025-1043 Kategória ADDA - Vedecké práce v domácich karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2010 článok
Názov Wrapper tool - learning and application of digital system testability to SoC cores Autor Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Bečková Jana 1966- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. 2010 IEEE Region 8 International Conference on Computational Technologies in Electrical and Electronics Engineering SIBIRCON-2010 : proceedings. P. 384-389. - Novosibirsk : IEEE, 2010 ; 2010 IEEE Region 8 International Conference on Computational Technologies in Electrical and Electronics Engineering SIBIRCON-2010 Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2010 DOI 10.1109/SIBIRCON.2010.5555111 článok
Názov Test pattern generation for the combinational representation of asynchronous circuits Autor Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Kotásek Zdeněk ; Steininger Andreas ; Gramatová Elena 1949- ; Zimmermann Horst ; Armengaud Eric ; Vierhaus Heinrich T. ; Függer Matthias ; Lechner Jakob 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : 13th IEEE DDECS 2010. P. 323-328. - Vienna : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010 ; IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems IEEE DDECS 2010 Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2010 DOI 10.1109/DDECS.2010.5491759 článok
Názov Diagnosis of faulty units in regular graphs under the PMC model Autor Mánik Miroslav SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Ronovell Michel ; Manhaeve Hans ; Drábková Jindra ; Rozkovec Martin ; Novák Ondřej ; Plíva Zdeněk ; Jeníček Jiří 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : proceedings. P. 202-205. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc., 2009 ; 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS 2009 Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2009 DOI 10.1109/DDECS.2009.5012128 článok
Názov Deductive fault simulation for asynchronous sequential circuits Autor Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Nunez Antonio ; Carballo Pedro P. Proceedings of the 2009 12th EUROMICRO Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools : DSD 2009. P. 459-464. - Los Alamitos : IEEE Computer Society, 2009 ; 2009 EUROMICRO Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools DSD 2009 Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2009 DOI 10.1109/DSD.2009.129 článok