Výsledky vyhľadávania
Názov Various MDCT implementations in 0.34 μm CMOS Autor Malík Peter 1980 - SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Šimlaštík Martin SAVINFO - Ústav informatiky SAV Luczyk Arkadiusz Pleskacz W. Zdroj.dok. / Straube B. ; Drutarovský M. ; Renovell M. ; Gramata P. ; Fischerová Mária 1955- 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : proceedings. P. 170-173. - Bratislava : The Institute of Electrical and Electronic Engineers, 2008 ; IEEE Design and Daignostics of Electronic Circuits and Systems Workshop IEEE DDECS Workshop Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 
článok
Názov Defects, faults, fault models : chapter 2 Autor Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Ubar Raimund Pleskacz W. Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Novák Ondřej ; Gramatová Elena 1949- ; Ubar Raimund Handbook of testing electronic systems. s. 26-96. - Praha : České vysoké učení technické v Praze, 2005 Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2005 
kniha
Názov Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Zdroj.dok. Microelectronics reliability. No. 42 (2002), s. 1141-1149 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Rok vykazovania 2002 DOI 10.1016/S0026-2714(02)00080-X článok
Názov Defect-oriented test generation and fault simulation in the environment of MOSCITO Autor Schneider Andrea Spoluautori Diener K.-H. Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Ivask E. Ubar R. Pleskacz W. Kuzmicz W. Zdroj.dok. BEC 2002 : Proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference. (2002), S. 303-305. - Tallinn Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2002 kniha
Názov Defect-oriented library builder and hierarchical test generation Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Akcia 4th International Workshop on IEEE DDECS 2001 ( 4th : April 18-20, 2001 : Györ, Hungary ) Zdroj.dok. Proceedings of IEEE Design and Diagnostics of electronic circuits and systems Workshop 2001. P. 163-168. - Hungary : SZIF-UNIVERSITAS Ltd., 2001 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2001 článok
Názov Defect-oriented test pattern generation for circuits with complex gates Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Mikloš P. Pleskacz W. Akcia 3rd Electronic Circuits and Systems Conference 2001 ( 3rd : September 5-7, 2001 : Bratislava ) Zdroj.dok. ECS'01.Conference Proceedings : 3rd Electronic Circuits and Systems Conference. P. 3-6. - Bratislava, 2001 Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2001 článok
Názov Defect-oriented test generation using probabilistic estimation Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Fischerová Mária 1955- Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Akcia 8th International Conference MIXDES 2001 ( 8th : June 21-23, 2001 : Zakopane, Poland ) Zdroj.dok. Proceedings of the 8th International Conference MIXDES 2001 : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems. P. 131-136. - Poland : Andrzej Napieralski, 2001 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2001 článok
Názov Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits Autor Blyzniuk M. Spoluautori Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Zdroj.dok. ETW 2000 - Informal Digest : IEEE European Test Workshop. P. 151-156 / Prinetto P. ; Teixiera J.P. ; Teixiera I.M.C. ; Flottes M.L.. - Los Alamitos : IEEE, 2000 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2000 článok
Názov Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits Autor Blyzniuk M. Spoluautori Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Zdroj.dok. IEEE European Test Workshop. Order No. PROO390 (2000), p. 69-74. - Los Alamitos, California : IEEE Computer Society Kategória ADC Rok vykazovania 2000 článok
Názov Hierarchical Defect Level Test Quality Analysis Autor Blyzniuk M. Spoluautori Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Akcia User Forum Slovakia 2000. Moderné elektronické obvody a systémy - Zborník prednášok a posterov : 7.4. : Kongresové centrum SAV, zámok Smolenice Zdroj.dok. 2nd User Forum. P. 83-93. - Bratislava, 2000 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2000 článok