Výsledky vyhľadávania
Názov Development towards high-resolution kHz-speed rotation-free volumetric imaging Autor Asimakopoulou E.M. Spoluautori Bellucci V. Birnsteinova S. Yao Z.H. Zhang Yu Petrov Ivo Deiter C. Mazzolari A. Romagnoni M. Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kuglerová Zuzana 1955- Juha Libor Lukić B. Rack A. Samoylova L. Garcia-Moreno F. Hall S. Neu T. Liang X. Vagovič Patrik Villanueva-Perez P. Akcia VEGA 2/0041/21. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2021 – 2023 Zdroj.dok. Optics Express. Vol. 32, no. 3 (2024), pp. 4413-4426 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2024 DOI 10.1364/OE.510800 Názov Testing of thickness homogeneity of Si crystal membranes using GaAs Timepix detector Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Ferrari C. Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 16 (2021), no. P06015 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.1088/1748-0221/16/06/P06015 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf Prístupný 4.2 MB 1 Autorský preprint Testing of thickness homogeneity of Si crystal.pdf Neprístupný/archív 925.3 KB 1 Vydavateľská verzia Názov Characterization of thickness homogeneity of Si crystal membranes produced by single point diamond turning Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mazzolari A. Romagnoni M. Ferrari C. Zdroj.dok. Progress in applied surface, interface and thin film science – solar renewable energy news 2021. SURFINT – SREN VII : extended abstract book. P. 72-73. - Bratislava : Comenius Univ., 2021 / Brunner Róbert 1954 Kategória AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií Rok vykazovania 2021 Názov A high-throughput assembly of beam-shaping channel-cut monochromators for laboratory high-resolution X-ray diffraction and small-angle X-ray scattering experiments Autor Nádaždy Peter SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Hagara Jakub SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mikulik P. Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. Vol. 54 (2021), p. 730-738 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.1107/S1600576721002338 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence A high-throughput assembly of beam-shaping channel-cut monochromators for laboratory high resolution X-ray diffraction and small-angle X-ray scattering experiments_2021.pdf Prístupný z IP adries SAV 1.5 MB 0 Vydavateľská verzia Názov Study of the contrast resolution of Timepix detector with a semi-insulating GaAs sensor Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Šagátová A. Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Žemlička J. Jakubek J. Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gál Norbert 1990 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 15 (2020), no. C04004 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 DOI 10.1088/1748-0221/15/04/C04004 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Study of the contrast resolution of Timepix detector.pdf Neprístupný/archív 1.5 MB 1 Vydavateľská verzia Názov Study of subsurface damage in Ge optics machined by SPDT Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Dobrovodský Jozef Noga Pavol Zdroj.dok. ASDAM 2020 : 13th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 152-156. - : IEEE, 2020 / Izsák Tibor ; Vanko Gabriel 1981 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 DOI 10.1109/ASDAM50306.2020.9393864 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Study of subsurface damage in Ge optics machined by SPDT.pdf Neprístupný/archív 655.7 KB 2 Vydavateľská verzia Názov Compressive strain formation in surface-damaged crystals Autor Ferrari C. Spoluautori Beretta S. Rotunno E. Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. Vol. 53 (2020), part 3, p. 629-634 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 DOI 10.1107/S1600576720003702 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Compressive strain formation in surface damaged crystals_sub.pdf Prístupný 1.2 MB 0 Autorský preprint Názov Performance of bulk semi-insulating GaAs-based sensor and its comparison to Si-based sensor for Timepix radiation camera Autor Kubanda D. SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šagátová A. Žemlička J. Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Dudák J. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. Vol. 14 (2019), no. C01023 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 DOI 10.1088/1748-0221/14/01/C01023 URL URL link Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Performance of bulk semi-insulating GaAs-based sensor and its comparison to Si-based sensor for Timepix radiation camera.pdf Neprístupný/archív 1.8 MB 0 Vydavateľská verzia Názov Characterization of the chips generated by the nanomachining of germanium for X-ray crystal optics Autor Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Kotlár M. Maťko Igor 1963 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hagara Jakub SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Kečkéš Jozef Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 Zdroj.dok. International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Vol. 102, no. 9-12 (2019), p. 2757-2767 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 DOI 10.1007/s00170-019-03392-z Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Characterization of the chips generated by the nanomachining of germanium for X-ray crystal optics.pdf Neprístupný/archív 3 MB 0 Vydavateľská verzia Názov Exploiting the potential of beam-compressing channel-cut monochromators for laboratory high-resolution small-angle X-ray scattering experiments Autor Nádaždy Peter SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Hagara Jakub SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mikulík P. Zápražný Zdenko 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Korytár Dušan 1950 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Akcia VEGA 2/0092/18. vedúci projektu Zápražný, Zdenko : 2018-2020 Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. Vol. 52 (2019), p. 498-506 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 DOI 10.1107/S1600576719003674 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Exploiting the potential of beam-compressing channel-cut monochromators for laboratory high-resolution small-angle X-ray scattering experiments.pdf Prístupný 2.2 MB 0 Postprint