Výsledky vyhľadávania
Názov Preparation and characterization of thin ZrO2 layers for gate insulation in MOSFET Autor Nemec M. Spoluautori Benko P. Neupauer M. SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Čičo Karol SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Harmatha L. Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. / Pudiš D. ; Kubicova I. ; Bury P. APCOM 2011 : proceedings of the 17th International Conference on Applied Physics of Condensed Matter, held in SPA Nový Smokovec, High Tatras, Slovakia, June 22-24, 2011. P. 98-101. - Žilina : University of Žilina, 2011 Kategória AED - Vedecké práce v domácich recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2011 
článok