Výsledky vyhľadávania
Názov Simultaneous monitoring of molecular thin film morphology and crystal structure by x-ray scattering Autor Mrkývková Naďa Tesařová 1984 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Nádaždy Peter SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hodas Martin 1986 Chai J. Wang S. (Suxin) Chi D. Sojková Michaela 1980 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hulman Martin 1967 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Chumakov A. Konovalov O. Hinderhofer A. Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Šiffalovič Peter 1975 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Schreiber F. Zdroj.dok. Crystal Growth & Design. Vol. 20, no. 8 (2020), p. 5269-5276 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 DOI 10.1021/acs.cgd.0c00448 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence 4.pdf Neprístupný/archív 2.1 MB 1 Vydavateľská verzia 
článok