Výsledky vyhľadávania
Názov Coplanar and non-coplanar X-ray reflectivity structural characterization of lateral W/Si multilayer gratings Autor Mikulik P. Spoluautori Jergel Matej 1954- Baumbach T. Brunel M. Majková Eva 1950 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Luby Štefan 1941 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Senderák Rudolf 1953 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hudek Peter 1953- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Akcia 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : September 1999 : Noordwijkerhout, Netherlands Zdroj.dok. 6th International Conference on Surface X-Ray and Neutron Scattering : Proceedings. - Noordwijkerhout, Netherlands, 1999 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 1999 
článok