Výsledky vyhľadávania
Názov Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits Autor Blyzniuk M. Spoluautori Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Zdroj.dok. ETW 2000 - Informal Digest : IEEE European Test Workshop. P. 151-156 / Prinetto P. ; Teixiera J.P. ; Teixiera I.M.C. ; Flottes M.L.. - Los Alamitos : IEEE, 2000 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2000 
článok
Názov ATPG for IDDQ and/or Voltage Testing of Combinational Circuits Using an Arbitrary Fault Library for Basic Gates Autor Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gašpar Ján Mikloš P. Akcia ETW 2000 - IEEE European Test Workshop. Informal Digest : 23.-26.05. : Cascais, Portugalsko Vyd.údaje California, Los Alamitos : IEEE , 2000 Zdroj.dok. ETW 2000 - Informal Digest . P. 317-318 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2000 článok