Výsledky vyhľadávania
Názov Contact measurement of skin temperature using a wearable two-channel PPG optical sensor supplemented by thermometers Autor Přibil Jiří 1962 SAVMER - Ústav merania SAV Spoluautori Přibilová Anna 1962 SAVMER - Ústav merania SAV Frollo Ivan 1939 SAVMER - Ústav merania SAV Korp. VEGA č. 2/0004/23. Research of properties of magnetic nanoparticles for imaging purposes in biomedical diagnostics based on magnetic resonance methods. Vedúci projektu: Jiří Přibil : 1.1.2023-31.12.2025 Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 75, no. 2 (2024), pp. 113-123 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2024 DOI 10.2478/jee-2024-0015 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Contact measurement of skin temperature using a wearable two-channel PPG optical sensor.pdf Prístupný 1.3 MB 10 Vydavateľská verzia 
článok
Názov Effects of metal layers on chemical vapor deposition of diamond films Autor Izsák Tibor SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Babchenko Oleg 1983 Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kromka A. Akcia APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 73, no. 5 (2022), p. 350–354 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.2478/jee-2022-0047 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Effects of metal layers on chemical vapor deposition of diamond films.pdf Prístupný 674.3 KB 0 Vydavateľská verzia článok
Názov Preparation and gas-sensing properties of very thin sputtered NiO films Autor Hotový I. Spoluautori Řeháček V. Kemeny M. Ondrejka P. Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Mikolášek M. Spiess L. Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 72, no. 1 (2021), p. 61-65 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.2478/jee-2021-0009 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Preparation and gas-sensing properties of very thin sputtered NiO films.pdf Prístupný 1.7 MB 0 Vydavateľská verzia článok
Názov Development and characterisation of photoelectrochemical MIS structures with RuO2/TiO2 gate stacs for water oxidation Autor Mikolášek M. Spoluautori Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Ondrejka P. Chymo F. Kemeny M. Hotový I. Harmatha L. Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 72 (2021), p. 203–207 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2021 DOI 10.2478/jee-2021-0028 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Development and characterisation of photoelectrochemical.pdf Neprístupný/archív 303.8 KB 0 Vydavateľská verzia článok
Názov Optical properties of electrochemically etched N-type silicon wafers for solar cell applications Autor Králik Martin Spoluautori Goraus Matej Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 71, no. 6 (2020), p. 406-412 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 DOI 10.2478/jee-2020-0055 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Optical properties of electrochemically etched N-type silicon wafers for solar cell applications_2020.pdf Prístupný 494.8 KB 2 Vydavateľská verzia článok
Názov Automatic statistical evaluation of quality of unit selection speech synthesis with different prosody manipulations Autor Přibil Jiří 1962 SAVMER - Ústav merania SAV Spoluautori Přibilová Anna 1962 SAVMER - Ústav merania SAV Matoušek J. Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 71, no. 2 (2020), p. 78-86 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2020 DOI 10.2478/jee-2020-0012 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Automatic statistical evaluation of quality of unit selection speech synthesis with different prosody manipulations.pdf Prístupný 303.4 KB 2 Vydavateľská verzia článok
Názov On KCN treatment effects on optical properties of Si-based bilayers Autor Mullerova Jarmila Spoluautori Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Králik Martin Holá Michaela Takahashi Masao Kobayashi Hikaru Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 70, no 7S. (2019), p. 77-82 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 DOI 10.2478/jee-2019-0045 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence On KCN treatment effects on optical properties of Si-based bilayers.pdf Prístupný 813.3 KB 1 Vydavateľská verzia článok
Názov Thickness and tensile stress determination of black silicon layers by spectral reflectance and Raman scattering Autor Králik Martin Spoluautori Jurečka Stanislav Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 70, no. 7 (2019), p. 51-57 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 DOI 10.2478/jee-2019-0041 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Thickness and tensile stress determination of black silicon layers by spectral reflectance and Raman scattering.pdf Prístupný 816.1 KB 5 Vydavateľská verzia článok
Názov Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering Autor Jurečka Stanislav Spoluautori Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Imamura Kentaro Matsumoto Taketoshi Kobayashi Hikaru Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 70, no. 7S (2019), p. 58-64 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 DOI 10.2478/jee-2019-0042 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Black silicon - correlation between microstructure and Raman scattering.pdf Prístupný 1.3 MB 3 Vydavateľská verzia článok
Názov Response of alumina resistance to trace concentrations of acetone vapors at room temperature Autor Ivančo Ján 1959 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Spoluautori Halahovets Yuriy 1982- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hofbauerová Monika Benkovičová 1985 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Mičušík Matej 1977- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV Kollár Jozef 1977- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV Kostiuk Dmytro 1976 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV Hološ Ana 1985- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV Mosnáček Jaroslav 1975- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV Zdroj.dok. Journal of Electrical Engineering. Vol. 70, no. 7S (2019), p. 122-126 Kategória ADNA - Vedecké práce v domácich impaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2019 DOI 10.2478/jee-2019-0053 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Response of alumina resistance to trace concentrations of acetone vapors at room temperature.pdf Prístupný 617.2 KB 1 Vydavateľská verzia článok