Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 26  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^sav_un_epca 067813 xcla^"
  1. NázovRF plasma deposition of thin amorphous silicon carbide films using a combination of silan and methane
    Autor Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Hotový I.
    Petzold
    Balalykin Nikolay I.
    Kobzev A.P.
    Zdroj.dok. ASDAM 2006. P. 59-62 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  2. NázovNb-Ti/Al/Ni/Au ohmic metallic system to AlGaN/GaN
    Autor Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Vanko G. SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Mozolová Želmíra SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Liday J.
    Vogrinčič P.
    Vincze A.
    Uherek F.
    Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Zdroj.dok. / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E. ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. S. 151-154. - Piscataway : IEEE, 2006
    KategóriaAED - Vedecké práce v domácich recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  3. NázovThe effect of rapid thermal annealing on oxygen precipitation in nitrogen doped silicon substrate
    Autor Stuchlíková Ľ.
    Spoluautori Harmatha L.
    Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Ballo P.
    Písečný Pavol SAVINFO - Ústav informatiky SAV
    Benkovič M.
    Jakabovič J.
    Zdroj.dok. ASDAM 2006. P. 43-46 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  4. NázovLeakage characteristics of advanced MOS capacitors with hafnium silicate dielectric and Ru electrode
    Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Dobročka Edmund 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Roozeboom F.
    Zdroj.dok. ASDAM 2006. P. 21-24 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  5. NázovCoupling capacitances of connecting-lead systems in integrated circuits
    Autor Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Foit J.
    Janíček V.
    Zdroj.dok. ASDAM 2006. P. 39-42 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  6. NázovX-ray diffraction characterization of low temperature grown GaAs/InP epilayers
    Autor Ferrari C.
    Spoluautori Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Kúdela Róbert 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    John J.
    Zdroj.dok. ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 143-146. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  7. NázovRF characterization and modeling of AlGaN/GaN based HFETs and MOSHFETs
    Autor Fox A.
    Spoluautori Marso M.
    Heidelberg G.
    Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zdroj.dok. ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 109-112. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  8. NázovEnergy band diagram of the Ru/Hf0.75Si0.25Oy/Si gate stack
    Autor Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Espinos J.P.
    Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Lupták Roman SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zdroj.dok. ASDAM 2006. P. 29-32 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  9. NázovPerformance study of bulk semi-insulating InP radiation detectors with different electrode metallization
    Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Dubecký František 1946 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Procházková O.
    Nečas V.
    Zdroj.dok. ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 161-164. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok

  10. NázovRapid thermal annealing and performance of Al2O3/GaN metal-oxide-semiconductor structures
    Autor Čičo Karol SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Spoluautori Kuzmík Ján 1960 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Georgakilas A.
    Pogany D.
    Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV
    Zdroj.dok. ASDAM 2006 : proceedings of the 6th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems. P. 197-200. - Piscataway : IEEE, 2006 / Breza J. ; Donoval D. ; Vavrinský E.
    KategóriaAEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách
    Kategória (od 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Typ výstupupríspevok
    Rok vykazovania2006
    článok

    článok


  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.