Výsledky vyhľadávania
Názov Electrical properties of ohmic contacts for Al0.3Ga0.7N/GaN semiconductor devices Autor Florovič M. Spoluautori Kováč Ján Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Škriniarová Jaroslava Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Michalka M. Donoval D. Uherek F. Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 103-106 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 Názov Hydrogenated amorphous carbon films prepared by plasma-enhanced chemical vapor deposition Autor Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Kobzev A.P. Balalykin Nikolay I. Petzold J. Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 127-130 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 Názov Low equivalent oxide thickness metal/insulator/metal structures for DRAM applications Autor Hudec Boris SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hušeková Kristína 1957 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Aarik J. Aidla A. Fröhlich Karol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 123-126 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 Názov Reliability issues of AlGaN/GaN heterostructures field-effect transistors Autor Škriniarová Jaroslava Spoluautori Florovič M. Kováč Ján Donoval D. Kordoš Peter SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 247-250 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 Názov Sub-micron Hall probes prepared by tip-induced local anodic oxidation Autor Martaus Jozef SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Cambel Vladimír 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gregušová Dagmar 1958 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kúdela Róbert 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 195-198 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 Názov Localised etching of (100) GaAs via an AlAs sacrificial layer Autor Eliáš Peter 1964 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kúdela Róbert 1952 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 303-306 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 DOI 10.1109/ASDAM.2008.4743343 Názov New progressive method suitable for the exposure optimization of large and complex defect-free chips direct written by ZBA 21 e-beam tool Autor Matay Ladislav 1950- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Andok Robert 1973- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Barák Vladislav 1948- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Konečníková Anna 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Partel Stefan Hudek Peter 1953- Zdroj.dok. / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ASDAM 2008 : conference proceedings. P. 199-202. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 DOI 10.1109/ASDAM.2008.4743316 Názov OMVPE growth and characterization of Ga1-xMnxAs diluted magnetic semiconductor Autor Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Kučera Michal 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Morvic Marian SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 111-114 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 Názov InMnAs dots grown on GaAs surfaces etched via AlAs sacrificial layer Autor Novák Jozef 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Eliáš Peter 1964 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Šoltýs Ján 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Hasenöhrl Stanislav 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Vávra Ivo 1949 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 219-222 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008 Názov Impact of SF6 plasma on DC and microwave performance of AlGaN/GaN HEMT structures Autor Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Lalinský Tibor 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Tomáška M. Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Mozolová Želmíra SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Škriniarová Jaroslava Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Vincze A. Uherek F. Zdroj.dok. ASDAM 2008. P. 335-338 : conference proceedings. - Piscataway, NJ : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008 / Haščík Štefan 1956 ; Osvald Jozef 1953 ; International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2008