Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 2  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^sav_un_epca 094489 xcla^"

  1. 1.Nanoscale analysis of defects in semiconductors and dielectrics by means of charge- transient spectroscopy/microscopy

    NázovNanoscale analysis of defects in semiconductors and dielectrics by means of charge- transient spectroscopy/microscopy
    Autor Lányi Štefan 1944 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Spoluautori Nádaždy Vojtech 1961 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Hruškovic Miloslav
    Hribik Ján
    Zdroj.dok. Materials Research Society Symposium Proceedings : MRS Proceedings 1995-2008., Vol. 1025. - Warrendale : Materials Research Society, 2008
    KategóriaAFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Rok vykazovania2008
    článok

    článok

  2. 2.On determination of properties of ultrathin and very thin silicon oxide layers by FTIR and X-ray reflectivity

    NázovOn determination of properties of ultrathin and very thin silicon oxide layers by FTIR and X-ray reflectivity
    Autor Kopáni M.
    Spoluautori Jergel Matej 1954- SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Kobayashi H.
    Takahashi M.
    Mikula M.
    Imamura K.
    Jurečka S.
    Pinčík Emil 1956 SAVFYZIK - Fyzikálny ústav SAV
    Zdroj.dok. Materials Research Society Symposium Proceedings : MRS Proceedings, Vol. 1066 . p. 199-204. - Warrendale : Materials Research Society, 2008
    KategóriaAFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Rok vykazovania2008
    článok

    článok



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.

Prijať všetkoNastavenieOdmietnuť všetko