Výsledky vyhľadávania
Názov Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond XUV pulses below the single-shot ablation threshold Autor Makhotkin Igor Spoluautori Milov Igor Chalupský Jaromír Tiedtke Kai de Vries Gosse Saksl Karel 1974 SAVMATVY - Ústav materiálového výskumu SAV Zdroj.dok. Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics. Vol. 35, no. 11 (2018), p. 2799-2805 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2018 DOI 10.1364/JOSAB.35.002799 File name Access Size Downloaded Type License Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond.pdf available 2.7 MB 2 Author's preprint 
článok