Výsledky vyhľadávania
Názov Memory testing and self-repair. Chapter 7 Časť.dok. Chapter 7 Autor Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 155-174. - New York : Information Science Reference, 2011 Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2011 
článok
Názov Delay faults testing Autor Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 377-394. - New York : Information Science Reference, 2011 Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2011 článok