Výsledky vyhľadávania
Názov Reliability Issues in GaN electronic devices Autor Ťapajna Milan 1977 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Koller C. Zdroj.dok. Nitride semiconductor technology : power electronics and optoelectronic devices. P. 199-253. - Weinheim : Wiley-VCH, 2020 / Roccaforte F. ; Leszczynski M. Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2020 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Reliability Issues_FrontMatter.pdf Prístupný 129.3 KB 6 Vydavateľská verzia Reliability Issues in GaN Electronic Devices.pdf Neprístupný/archív 3.2 MB 3 Postprint 
článok