Výsledky vyhľadávania
Názov 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : 13th IEEE DDECS 2010 Ďalší autori Kotásek Zdeněk Steininger Andreas Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zimmermann Horst Armengaud Eric Vierhaus Heinrich T. Függer Matthias Lechner Jakob Akcia IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. IEEE DDECS 2010 ( 13th : April 14-16, 2010 : Vienna ) Vyd.údaje Vienna : Institute of Electrical and Electronics Engineers , 2010. - 407 p. Kategória FAI - Zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...) Rok vykazovania 2010 Odkazy (1) Publikačná činnosť SAV - články 
kniha
Názov Test pattern generation for the combinational representation of asynchronous circuits Autor Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Kotásek Zdeněk ; Steininger Andreas ; Gramatová Elena 1949- ; Zimmermann Horst ; Armengaud Eric ; Vierhaus Heinrich T. ; Függer Matthias ; Lechner Jakob 13th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : 13th IEEE DDECS 2010. P. 323-328. - Vienna : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010 ; IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems IEEE DDECS 2010 Kategória AEC - Vedecké práce v zahraničných recenzovaných vedeckých zborníkoch (aj konferenčných), monografiách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok Rok vykazovania 2010 DOI 10.1109/DDECS.2010.5491759 
článok