Výsledky vyhľadávania
Názov Test pattern generation using a new VHDL open platform on behavioral level Autor Štefanovič J. Spoluautori Mikloš P. Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Akcia Informal Digest of IEEE ETW 2001 : May 29-June 1, 2001 : Stockholm, Sweden Zdroj.dok. Informal Digest of IEEE European Test Workshop 2001. P. 211-213. - Stockholm, Sweden, 2001 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2001 
článok