Výsledky vyhľadávania
Názov Test pattern generation using a new VHDL open platform on behavioral level Autor Štefanovič J. Spoluautori Mikloš P. Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Akcia Informal Digest of IEEE ETW 2001 : May 29-June 1, 2001 : Stockholm, Sweden Zdroj.dok. Informal Digest of IEEE European Test Workshop 2001. P. 211-213. - Stockholm, Sweden, 2001 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2001 
článok
Názov 35uM thick high-resolution silicon stencil mask: Fabrication and operation in high energy ion projection and 10xdemagnification ion projection lithography Autor Rangelow I.W. Spoluautori Sossna E. Volland B. Shi F. Meijer J. Stephan A. Weidenmuller U. Bukow H.H. Rolfs C. Ngo Vinh Van Leung K.N. Kostič Ivan 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Matay Ladislav 1950- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Akcia The 45th International Conference on Electron, Ion and Photo Beam Technology and Nanofabrication. EIPBN 2001 ( 45th : May 29-June 1, 2001 : Washington, DC ) Zdroj.dok. The 45th International Conference on Electron, Ion and Photo Beam Technology and Nanofabrication : EIPBN 2001. Abstracts. P. 96-97. - Washington, DC, USA, 2001 Kategória AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií Rok vykazovania 2001 článok