Výsledky vyhľadávania
Názov MBIST for LEON3 processor core cache Autor Kincel Andrej SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Sekanina Lukáš ; Fey Görschwin ; Růžička Richard ; Raik J. ; Aunet Snorre 2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems : DDECS. P. 287-288. - Brno : IEEE Computer Society Test Technology Technical Council, 2013 ; 2013 IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2013 DOI 10.1109/DDECS.2013.6549836 
článok
Názov 2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems : DDECS Ďalší autori Sekanina Lukáš Fey Görschwin Růžička Richard Raik J. Aunet Snorre Akcia 2013 IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems. DDECS ( 16th : April 8-10, 2013 : Karlovy Vary ) Vyd.údaje Brno : IEEE Computer Society Test Technology Technical Council , 2013. - 300 p. Kategória FAI - Zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...) Odkazy (1) Publikačná činnosť SAV - články 
kniha
Názov Genetic method for compressed skewed-load delay test generation Autor Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Zdroj.dok. / Raik J. ; Stopjaková V. ; Jenihhin Maksim ; Vierhaus Heinrich T. ; Pleskacz W. ; Ubar Raimund Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS. P. 242-247. - Piscataway : IEEE, 2012 ; 2012 IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems DDECS 2012 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2012 DOI 10.1109/DDECS.2012.6219065 článok
Názov Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : DDECS Ďalší autori Raik J. Stopjaková V. Jenihhin Maksim Vierhaus Heinrich T. Pleskacz W. Ubar Raimund Akcia 2012 IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS 2012 ( 15th : April 18-20, 2012 : Tallinn ) Vyd.údaje Piscataway : IEEE , 2012. - 386 p. Kategória FAI - Zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...) Odkazy (1) Publikačná činnosť SAV - články kniha
Názov Memory testing and self-repair. Chapter 7 Časť.dok. Chapter 7 Autor Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 155-174. - New York : Information Science Reference, 2011 Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2011 článok
Názov Design and test technology for dependable systems-on-chip Autor Ubar Raimund Spoluautori Raik J. Vierhaus Heinrich T. Vyd.údaje New York : Information Science Reference , 2011. - ebook Kategória AAA - Vedecké monografie vydané v zahraničných vydavateľstvách Odkazy (2) Publikačná činnosť SAV - články kniha
Názov Delay faults testing Autor Baláž Marcel 1979- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Dobai Roland 1983- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- Zdroj.dok. / Ubar Raimund ; Raik J. ; Vierhaus Heinrich T. Design and test technology for dependable systems-on-chip. P. 377-394. - New York : Information Science Reference, 2011 Kategória ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu kapitola Rok vykazovania 2011 článok
Názov Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Fischerová Mária 1955- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Zdroj.dok. Microelectronics reliability. No. 42 (2002), s. 1141-1149 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Rok vykazovania 2002 DOI 10.1016/S0026-2714(02)00080-X článok
Názov Internet-based collaborative test generation with MOSCITO Autor Schneider Andrea Spoluautori Ivask E. Mikloš P. Raik J. Diener K.-H. Ubar R. Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Akcia 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition : March 4-8, 2002 : Paris, France Zdroj.dok. 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition. Proceedings. P. 221-226. - Los Alamitos, California : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., 2002 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Rok vykazovania 2002 DOI 10.1109/DATE.2002.998273 článok
Názov Defect-oriented library builder and hierarchical test generation Autor Cibáková Tatiana 1960- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Spoluautori Gramatová Elena 1949- SAVINFO - Ústav informatiky SAV Kuzmicz W. Pleskacz W. Raik J. Ubar R. Akcia 4th International Workshop on IEEE DDECS 2001 ( 4th : April 18-20, 2001 : Györ, Hungary ) Zdroj.dok. Proceedings of IEEE Design and Diagnostics of electronic circuits and systems Workshop 2001. P. 163-168. - Hungary : SZIF-UNIVERSITAS Ltd., 2001 Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Rok vykazovania 2001 článok