Výsledky vyhľadávania
Názov Radiation-degraded SI GaAs detectors and their metallization Autor Šagátová A. Spoluautori Novák A. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Riabukhin O. Kotorová S. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Zdroj.dok. AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2022), 22–24 June 2022, Štrbské Pleso, Slovak Republic. Vol. 2778 (2023), no. 060009 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.1063/5.0137383 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Radiation-degraded Si GaAs detectors and their metallization.pdf Neprístupný/archív 1 MB 0 Vydavateľská verzia Názov Spectrometry of electron irradiated CdTe Schottky-barrier semiconductor detectors before polarization onset Autor Sedlačková K. Spoluautori Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nečas V. Akcia APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Zdroj.dok. AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2022), 22–24 June 2022, Štrbské Pleso, Slovak Republic. Vol. 2778 (2023), no. 060010 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.1063/5.0136307 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Spectrometry of electron irradiated cdTe Schottky-barrier semiconductor detectors before polarization onset.pdf Neprístupný/archív 1.1 MB 0 Vydavateľská verzia Názov Detection of fast neutrons using 4H-SiC radiation detectors Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Šagátová A. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Novák A. Sýkora Rudolf Kohout Z. Polansky Š. Akcia APVV 22-0382. vedúci projetu: Zaťko, Bohumír : 2023-2027 APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Zdroj.dok. EPJ Web of Conferences : ANIMMA 2023. Vol. 288 (2023), no. 03004 Kategória ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.1051/epjconf/202328803004 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Detection of fast neutrons using 4H-SiC.pdf Prístupný 475.7 KB 0 Vydavateľská verzia Názov Effect of thermal annealing on 4H-SiC radiation detector Autor Kotorová S. Spoluautori Šagátová A. Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Zdroj.dok. AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2022), 22–24 June 2022, Štrbské Pleso, Slovak Republic. Vol. 2778 (2023), no. 060004 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.1063/5.0136176 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Effect of thermal annealing on 4H-SiC radiation detector.pdf Neprístupný/archív 946.3 KB 0 Vydavateľská verzia Názov Influence of base material thickness on spectrometry of semiconductor detectors based on semi-insulating GaAs Autor Šagátová A. Spoluautori Kurucová N. Kotorová S. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 APVV 22-0382. vedúci projetu: Zaťko, Bohumír : 2023-2027 Zdroj.dok. EPJ Web of Conferences : ANIMMA 2023. Vol. 288 (2023), no. 10013 Kategória ADEB - Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch neimpaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.1051/epjconf/202328810013 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Influence of base material thickness on.pdf Prístupný 821.1 KB 0 Vydavateľská verzia Názov Raman spectroscopy study of very thin carbon films prepared by electron beam-plasma vacuum deposition Autor Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Skrypnik A.P. Dujnič Viera 1990- SAVCHEM - Chemický ústav SAV Doroshkevich A.S. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Nozdrin Mikhail A. Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Shirkov G.D. Akcia VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 Zdroj.dok. Proceedings of ADEPT 2023 : 11th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies, held in Podbanské, High Tatras, Slovakia, June 12th – 15th, 2023. P. 67-70. - Žilina : University of Zilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2023 / Jandura D. ; Lettrichová I. ; Kováč J., jr. Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia Rok vykazovania 2023 Názov Energy calibration of timepix detector with GaAs sensor Autor Novák A. Spoluautori Šagátová A. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Zdroj.dok. AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2022), 22–24 June 2022, Štrbské Pleso, Slovak Republic. Vol. 2778 (2023), no. 050004 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.1063/5.0135894 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Energy calibration of timepix detector with GaAs sensor.pdf Neprístupný/archív 1.6 MB 4 Vydavateľská verzia Názov Spectrometric performance of 4H-SiC detectors after neutron irradiation Autor Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Hrubčín Ladislav 1951 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Gurov Y.B. Rozov S.V. Evseev S.A. Bulavin M.V. Zamiatin N.I. Kopylov Y.A. Sekáčová Mária 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Zdroj.dok. AIP Conference Proceedings : Applied Physics of Condensed Matter (APCOM 2022), 22–24 June 2022, Štrbské Pleso, Slovak Republic. Vol. 2778 (2023), no. 060012 Kategória ADMB - Vedecké práce v zahraničných neimpaktovaných časopisoch registrovaných vo WOS Core Collection alebo SCOPUS Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok z podujatia Rok vykazovania 2023 DOI 10.1063/5.0135875 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Spectrometric performance of 4H-SiC detectors after.pdf Neprístupný/archív 1.1 MB 1 Vydavateľská verzia Názov Amorphous silicon carbide thin films doped with P or B for the photoelectrochemical water splitting devices Autor Huran Jozef 1955 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Boháček Pavol 1954 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Sasinková Vlasta 1954- SAVCHEM - Chemický ústav SAV Kleinová Angela 1960- SAVPOLYM - Ústav polymérov SAV Mikolášek Miroslav Kobzev Aexander P. Akcia VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 Zdroj.dok. Current Applied Physics. Vol. 34 (2022), pp. 101-106 Kategória ADCA - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch impaktovaných Kategória (od 2022) V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu Typ výstupu článok Rok vykazovania 2022 DOI 10.1016/j.cap.2021.11.014 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Amorphous silicon carbide thin films doped with P or B for the.pdf Neprístupný/archív 1.2 MB 3 Vydavateľská verzia Názov Optimization of mask material for deep reactive ion etching of GaAs structures Autor Izsák Tibor SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Spoluautori Kováčová Eva 1966 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Vanko Gabriel 1981 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Haščík Štefan 1956 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Zehetner J. Vojs M. Zaťko Bohumír 1973 SAVELEK - Elektrotechnický ústav SAV Akcia VEGA 2/0084/20. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2020-2023 APVV 18-0273. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2023 APVV 18-0243. vedúci projektu Zaťko, Bohumír : 2019-2022 Zdroj.dok. Proceedings of ADEPT 2021 : 10th International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies, Tatranská Lomnica, High Tatras, Slovakia. P. 169-172. - Žilina : University of Zilina in EDIS-Publishing Centre of UZ, 2022 / Feiler M. ; Ziman M. ; Kováčová S. ; Kováč Jaroslav Jr. Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória (od 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia Rok vykazovania 2022 Názov súboru Prístup Veľkosť Stiahnuté Typ Licence Optimization of mask material for deep reactive ion etching of GaAs structures.pdf Prístupný 511.6 KB 2 Vydavateľská verzia