Počet záznamov: 1
Měření v SUB - nanometrech
Názov Měření v SUB - nanometrech Zdroj.dok. MM Průmyslové spektrum. Č. 9 (2022), s. 40. - : Industria Press : MM publishing Praha, 2022 Jazyk dok. čeština Krajina Česká republika Systematika 62-022.532 535.41 681.782.44 Heslá nanotechnológie - nanotechnologies * meranie - measurement * nanometre * interferometria - interferometry Anotácia Nielen vďaka rozvoju nanotechnológie, kedy je potrebné merať naozaj malé polovodičové súčiastky, má spoločnosť Micro-Epsilon vo svojom portfóliu optické interferometrické meracie systémy. Interferometer dosahuje sub-nanometrické rozlíšenie pri zachovaní relatívne veľkého meracieho rozsahu a offsetu, ktorý umožňuje väčšiu vzdialenosť od meraného cieľa. Kategória publikačnej činnosti BDE Báza dát xcla - ČLÁNKY Druh dok. RBX - rozpis článkov z periodík Odkazy PERIODIKÁ-Súborný záznam periodika Čísla 2022: 9 
článok
Počet záznamov: 1